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  Charge fluctuations and image potential at oxide-metal interfaces

Altieri, S., Tjeng, L. H., Voogt, F. C., Hibma, T., Rogojanu, O., & Sawatzky, G. A. (2002). Charge fluctuations and image potential at oxide-metal interfaces. Physical Review B, 66(15): 155432, pp. 1-6. doi:10.1103/PhysRevB.66.155432.

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Urheber

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 Urheber:
Altieri, S.1, Autor
Tjeng, L. H.2, Autor           
Voogt, F. C.1, Autor
Hibma, T.1, Autor
Rogojanu, O.1, Autor
Sawatzky, G. A.1, Autor
Affiliations:
1external, ou_persistent22              
2External Organizations, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: -
 Zusammenfassung: We analyze the dynamical response of the Ag metal surface to electronic excitations in a MgO(100)/Ag(100) oxide-metal interface system. Intrinsic and extrinsic surface plasmon excitations are discussed in relation to mutual interactions between the oxide and the metal. A direct relationship is established between the reduction of charge fluctuation energies in the MgO(100) layers and the image charge screening by the Ag(100) metal surface.

Details

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Sprache(n):
 Datum: 2002-10-31
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: ISI: 000179080800151
DOI: 10.1103/PhysRevB.66.155432
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Physical Review B
  Andere : Phys. Rev. B
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Woodbury, NY : American Physical Society
Seiten: - Band / Heft: 66 (15) Artikelnummer: 155432 Start- / Endseite: 1 - 6 Identifikator: ISSN: 1098-0121
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925225008