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  Transmission electron microscopy characterization of Au/Pt/Ti/Pt/GaAs ohmic contacts for high power GaAs/InGaAs semiconductor lasers

Łaszcz, A., Czerwinski, A., Ratajczak, J., Szerling, A., Phillipp, F., van Aken, P. A., et al. (2010). Transmission electron microscopy characterization of Au/Pt/Ti/Pt/GaAs ohmic contacts for high power GaAs/InGaAs semiconductor lasers. Journal of Microscopy, 237(3), 347-351.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3B67-4 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3B69-F
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Łaszcz, A.1, Autor
Czerwinski, A.1, Autor
Ratajczak, J.1, Autor
Szerling, A.1, Autor
Phillipp, F.2, Autor           
van Aken, P. A.2, Autor           
Katcki, J.1, Autor
Affiliations:
1Institute of Electron Technology, Al. Lotnikow 32/46, 02–668 Warsaw, Poland., ou_persistent22              
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2010
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 458891
DOI: 10.1111/j.1365-2818.2009.03258.x
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: EM 2008 - XIII International Conference on Electron Microscopy
Veranstaltungsort: Zakopane, Poland
Start-/Enddatum: 2008-06-08 - 2008-06-11

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Microscopy
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 237 (3) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 347 - 351 Identifikator: -