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  Preparation of hard-to-make TEM samples using the FIB microscope

Volkert, C. A., Heiland, B., & Kauffmann, F. (2003). Preparation of hard-to-make TEM samples using the FIB microscope. Praktische Metallographie-Practical Metallography, 40(4), 193-208.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2CE8-C Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2CE9-A
Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : Prakt. Metallogr.-Pract. Metallogr.

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Volkert, C. A.1, Autor           
Heiland, B.1, Autor           
Kauffmann, F.1, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2003-04
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 112769
ISI: 000183440400005
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Praktische Metallographie-Practical Metallography
  Alternativer Titel : Prakt. Metallogr.-Pract. Metallogr.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 40 (4) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 193 - 208 Identifikator: ISSN: 0032-678X