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  TEM-Observation of Dislocations in Polycrystalline Metal Films

Dehm, G., & Müllner, P. (2001). TEM-Observation of Dislocations in Polycrystalline Metal Films. In K. Buschow, R. Cahn, M. Flemings, B. Ilschner, E. Kramer, & S. Mahajan (Eds.), The Encyclopedia of Materials: Science and Technology (pp. 2329-2331).

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002E-2827-B Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002E-2828-9
Genre: Buchkapitel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Dehm, Gerhard1, Autor           
Müllner, Peter1, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 2001
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 3
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: The Encyclopedia of Materials: Science and Technology
Genre der Quelle: Buch
 Urheber:
Mahajan, Subhash, Autor
Buschow, K.H.J., Herausgeber
Cahn, Robert, Herausgeber
Flemings, Merton, Herausgeber
Ilschner, Bernhard, Herausgeber
Kramer, Edward , Herausgeber
Mahajan, Subhash, Herausgeber
Veyssiere, Patrick, Autor
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: 10388 Band / Heft: 1 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 2329 - 2331 Identifikator: -