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  Analysis of background events in Silicon Drift Detectors

Eggert, T., Goldstrass, P., Kemmer, J., & Pahlke, A. (2003). Analysis of background events in Silicon Drift Detectors. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A, 512(1-2), 257-264.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0011-E856-7 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-8080-E
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Eggert, T., Autor
Goldstrass, P., Autor
Kemmer, J., Autor
Pahlke, A.1, Autor           
Affiliations:
1High Energy Astrophysics, MPI for Extraterrestrial Physics, Max Planck Society, ou_159890              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2003
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 63173
DOI: 10.1016/S0168-9002(03)01902-8
Anderer: 7676
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Proceedings of the 9th European Symposium on Semiconductor Detect ors: New Developments on Radiation Detectors
Veranstaltungsort: Elmau, Germany
Start-/Enddatum: 2003-10-11 - 2003-10-11

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A
  Alternativer Titel : Nucl. Instrum. & Methods Phys. Res. Sect. A
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 512 (1-2) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 257 - 264 Identifikator: ISSN: 0168-9002