日本語
 
Help Privacy Policy ポリシー/免責事項
  詳細検索ブラウズ
  1. ホーム / 
  2. タグ / 
  3. 詳細表示

アイテム詳細

登録内容を編集ファイル形式で保存
一時保存へ追加
 詳細要約
  Parametric Model Order Reduction for Electro-Thermal Coupled Problems

Feng, L., & Benner, P. (2019). Parametric Model Order Reduction for Electro-Thermal Coupled Problems. In E. J. W., ter Maten, H.-G., Brachtendorf, R., Pulch, W., Schoenmaer, & H., De Gersem (Eds.), Nanoelectronic Coupled Problems Solutions (pp. 293-309). Cham, Switzerland: Springer.

Item is

 

表示: 全項目 非表示: 全項目

基本情報

表示: 非表示:
アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0004-ECD6-1 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0005-3F2C-5
資料種別: 書籍の一部

ファイル

表示: ファイル

関連URL

表示:

作成者

表示:
非表示:
 作成者:
Feng, Lihong1, 著者           
Benner, Peter1, 著者           
所属:
1Computational Methods in Systems and Control Theory, Max Planck Institute for Dynamics of Complex Technical Systems, Max Planck Society, ou_1738141              

内容説明

表示:

資料詳細

表示:
非表示:
言語:
 日付: 2019
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.1007/978-3-030-30726-4_13
 学位: -

関連イベント

表示:

訴訟

表示:

Project information

表示:

出版物 1

表示:
非表示:
出版物名: Nanoelectronic Coupled Problems Solutions
種別: 書籍
 著者・編者:
ter Maten, E. J. W., 編集者
Brachtendorf, H.-G., 編集者
Pulch, R., 編集者
Schoenmaer, W., 編集者
De Gersem, H., 編集者
所属:
-
出版社, 出版地: Cham, Switzerland : Springer
ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 293 - 309 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISBN: 978-3-030-30726-4
DOI: 10.1007/978-3-030-30726-4
ISBN: 978-3-030-30725-7

出版物 2

表示:
非表示:
出版物名: The European Consortium for Mathematics in Industry
種別: 連載記事
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Cham, Switzerland : Springer Nature
ページ: - 巻号: 29 通巻号: - 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -