Revisiting Field Ion Microscopy

Gault, Baptiste; Dagan, Michal; Katnagallu, Shyam; De Geuser, Frédéric; Vurpillot, François; Raabe, Dierk; Moody, Michael P.

Revisiting Field Ion Microscopy

Gault, B., Dagan, M., Katnagallu, S., De Geuser, F., Vurpillot, F., Raabe, D., & Moody, M. P. (2017). Revisiting Field Ion Microscopy. Talk presented at TMS 2017. San Diego, CA, USA. 2017-02-26 - 2017-03-02.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-C597-4 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-EA39-C

資料種別: 講演

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Gault, Baptiste¹, 著者
Dagan, Michal², 著者
Katnagallu, Shyam¹, 著者
De Geuser, Frédéric^{3, 4}, 著者
Vurpillot, François⁵, 著者
Raabe, Dierk⁶, 著者
Moody, Michael P.⁷, 著者

所属:
1Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384
2Department of Materials, University of Oxford, Parks Road, Oxford, OX1 3PH UK, persistent22
3Université Grenoble Alpes, SIMAP, F-38000 Grenoble, France, persistent22
4CNRS, SIMAP, F-38000 Grenoble, France, persistent22
5The Sir William Dunn School of Pathology, University of Oxford, Oxford, UK, persistent22
6Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381
7Department of Materials, University of Oxford, Parks Road, Oxford OX13PH, UK, ou_persistent22

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言語: eng - English

日付: 作成: 2017

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