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  Trenches around and between self-assembled silicon/germanium islands grown on silicon substrates investigated by atomic force microscopy

Denker, U., Daschiel, M., Jin-Phillipp, N. Y., & Schmidt, O. G. (2002). Trenches around and between self-assembled silicon/germanium islands grown on silicon substrates investigated by atomic force microscopy. Materials Science and Engineering B, 89, 166-170.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3298-2 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3299-F
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Denker, U.1, Autor
Daschiel, M., Autor
Jin-Phillipp, N. Y.2, 3, 4, Autor           
Schmidt, O. G., Autor
Affiliations:
1Max Planck Society, ou_persistent13              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
3Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645              
4Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle; 39-ru_2002
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2002
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 10821
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Materials Science and Engineering B
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 89 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 166 - 170 Identifikator: -