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  Modified atomic force microscope for high-rate dynamic force spectroscopy

Ptak, A., Kappl, M., & Butt, H.-J. (2006). Modified atomic force microscope for high-rate dynamic force spectroscopy. Applied Physics Letters, 88(26): 263109. doi:10.1063/1.2218273.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-802D-6 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0029-CAE1-9
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Ptak, A.1, Autor           
Kappl, Michael1, Autor           
Butt, Hans-Jürgen1, Autor           
Affiliations:
1MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1309545              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2006
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 284846
Anderer: P-06-93
DOI: 10.1063/1.2218273
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Physics Letters
  Kurztitel : Appl. Phys. Lett.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Melville, NY : American Institute of Physics
Seiten: - Band / Heft: 88 (26) Artikelnummer: 263109 Start- / Endseite: - Identifikator: Anderer: 0003-6951
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954922836223