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  Beam-induced atomic migration at Ag-containing nanofacets at an asymmetric Cu grain boundary

Peter, N. J., Liebscher, C., Kirchlechner, C., & Dehm, G. (2017). Beam-induced atomic migration at Ag-containing nanofacets at an asymmetric Cu grain boundary. Journal of Materials Research, 32(5), 968-982. doi:10.1557/jmr.2016.398.

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Urheber

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 Urheber:
Peter, Nicolas J.1, Autor           
Liebscher, Christian1, Autor           
Kirchlechner, Christoph2, Autor           
Dehm, Gerhard3, Autor           
Affiliations:
1Advanced Transmission Electron Microscopy, Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863399              
2Nano-/ Micromechanics of Materials, Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863401              
3Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863398              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2016-11-142017-03
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1557/jmr.2016.398
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Materials Research
  Kurztitel : J. Mater. Res.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 32 (5) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 968 - 982 Identifikator: ISSN: 0884-2914
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925550339