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  Atomic-scale characterization of the CdS/CuInSe2 interface in thin-film solar cells

Cojocaru-Mirédin, O., Choi, P., Wuerz, R., & Raabe, D. (2011). Atomic-scale characterization of the CdS/CuInSe2 interface in thin-film solar cells. Applied Physics Letters, 98, 103504-1-103504-3. doi:10.1063/1.3560308.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-3425-A 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-3427-6
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Cojocaru-Mirédin, O.1, 著者           
Choi, P.1, 著者           
Wuerz, R., 著者
Raabe, D.2, 著者           
所属:
1Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384              
2Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381              

内容説明

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資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2011
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 569969
DOI: 10.1063/1.3560308
 学位: -

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出版物 1

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出版物名: Applied Physics Letters
  出版物の別名 : Appl. Phys. Lett.
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 98 通巻号: - 開始・終了ページ: 103504-1 - 103504-3 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -