Exploring the resolution limits of time-of-flight RBS with heavy ions

Silva, T. F.; Mayer, M.; Ertl, K.; Arredondo, R.; Oberkofler, M.

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Exploring the resolution limits of time-of-flight RBS with heavy ions

Silva, T. F., Mayer, M., Ertl, K., Arredondo, R., & Oberkofler, M. (2017). Exploring the resolution limits of time-of-flight RBS with heavy ions. Poster presented at 23rd International Conference on Ion Beam Analysis (IBA 2017), Shanghai.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002E-02E5-2 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002E-02E6-F

資料種別: ポスター

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Silva, T. F.¹, 著者
Mayer, M.², 著者
Ertl, K.², 著者
Arredondo, R.³, 著者
Oberkofler, M.², 著者

所属:
1External Organizations, ou_persistent22
2Plasma Edge and Wall (E2M), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856327
3Tokamak Scenario Development (E1), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856321

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言語: eng - English

日付: 投稿: 2017

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