3D-Orientierungsmikroskopie mittels FIB-SEM: Möglichkeiten und Grenzen einer 
neuen Mikroskopietechnik

Zaefferer, S.

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3D-Orientierungsmikroskopie mittels FIB-SEM: Möglichkeiten und Grenzen einer neuen Mikroskopietechnik

Zaefferer, S. (2008). 3D-Orientierungsmikroskopie mittels FIB-SEM: Möglichkeiten und Grenzen einer neuen Mikroskopietechnik. Materialwissenschaftliches Kolloquium im Institut für Eisenhüttenkunde. RWTH Aachen, Germany, 2008-10-23.

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Item Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-458F-4 Version Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-4591-D

Genre: Teaching

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Zaefferer, S.¹, Author

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1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391

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Language(s): deu - German

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Identifiers: eDoc: 379782

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Title: Materialwissenschaftliches Kolloquium im Institut für Eisenhüttenkunde

Place of Event: RWTH Aachen, Germany

Start-/End Date: 2008-10-23

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