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  Untersuchung von Halbleiterrandschichten in photoelektrochemischen Zellen mittels Lumineszenzmessungen

Chmiel, G. (1988). Untersuchung von Halbleiterrandschichten in photoelektrochemischen Zellen mittels Lumineszenzmessungen. PhD Thesis, Technische Universität, Berlin.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002A-F948-7 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002A-F949-5
Genre: Hochschulschrift

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Chmiel, Gerd 1, Autor
Hese, A., Gutachter
Gerischer, Heinz1, Gutachter           
Gumlich, H.-E., Gutachter
Affiliations:
1Physical Chemistry, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_634546              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): deu - German
 Datum: 1988-07-06
 Publikationsstatus: Angenommen
 Seiten: 131
 Ort, Verlag, Ausgabe: Berlin : Technische Universität
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: Doktorarbeit

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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