Quantitative prediction of semiconductor laser characteristics based on low 
intensity photoluminescence measurements

Hader, J.; Zakharian, A.R.; Moloney, J.V.; Nelson, T.R.; Siskaninetz, W.J.; Ehret, J.E.; Hantke, Kristian; Hofmann, M.; Koch, S.W.

doi:10.1109/LPT.2002.1003085

Quantitative prediction of semiconductor laser characteristics based on low intensity photoluminescence measurements

Hader, J., Zakharian, A., Moloney, J., Nelson, T., Siskaninetz, W., Ehret, J., Hantke, K., Hofmann, M., & Koch, S. (2002). Quantitative prediction of semiconductor laser characteristics based on low intensity photoluminescence measurements. IEEE Photonics Technology Letters, 14(6), 762-764. doi:10.1109/LPT.2002.1003085.

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資料種別: 学術論文

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Hader, J., 著者
Zakharian, A.R., 著者
Moloney, J.V., 著者
Nelson, T.R., 著者
Siskaninetz, W.J., 著者
Ehret, J.E., 著者
Hantke, Kristian¹, 著者
Hofmann, M., 著者
Koch, S.W., 著者

所属:
1Group Nonlinear laser spectroscopy, Department of Dynamics of Complex Fluids, Max Planck Institute for Dynamics and Self-Organization, Max Planck Society, ou_2063305

内容説明

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キーワード: -

要旨: A general scheme for the determination of vital operating characteristics of semiconductor lasers from low intensity photoluminescence spectra is outlined and demonstrated. We describe a comprehensive model that allows us to determine properties of the running device like gain spectra, peak gain wavelengths, bandwidths or differential gains, as well as inhomogeneous broadening and actual carrier densities of PL-signals. This information can then be used to compute characteristics like the temperature dependence of the gain, threshold densities, optical field distributions or near-field and far-field outputs.

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言語: eng - English

日付: オンライン出版: 2002-06出版: 2002-08-07

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識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.1109/LPT.2002.1003085
BibTex参照ID: hader_quantitative_2002

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出版物名: IEEE Photonics Technology Letters

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: New York, NY : Institute of Electrical and Electronics Engineers

ページ: - 巻号: 14 (6) 通巻号: - 開始・終了ページ: 762 - 764 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 1041-1135
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925589367

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