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  Towards monomaterial p-n junctions: single-step fabrication of tin oxide films and their non-destructive characterisation by angle-dependent X-ray photoelectron spectroscopy

Krzywiecki, M., Sarfraz, A., & Erbe, A. (2015). Towards monomaterial p-n junctions: single-step fabrication of tin oxide films and their non-destructive characterisation by angle-dependent X-ray photoelectron spectroscopy. Applied Physics Letters, 107(23): 231601. doi:10.1063/1.4937003.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0029-2749-5 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-CB56-4
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Krzywiecki, Maciej1, Autor           
Sarfraz, Adnan2, Autor           
Erbe, Andreas2, Autor           
Affiliations:
1Institute of Physics – CSE, Silesian University of Technology, B. Krzywoustego 2, 44–100 Gliwice, Poland, ou_persistent22              
2Interface Spectroscopy, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863358              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2015
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1063/1.4937003
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Physics Letters
  Kurztitel : Appl. Phys. Lett.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Melville, NY : American Institute of Physics
Seiten: 6 Band / Heft: 107 (23) Artikelnummer: 231601 Start- / Endseite: - Identifikator: Anderer: 0003-6951
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954922836223