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  Interwire coupling for In(4 x 1)/Si(111) probed by surface transport

Edler, F., Miccoli, I., Demuth, S., Pfnür, H. E., Wippermann, S. M., Lücke, A., et al. (2015). Interwire coupling for In(4 x 1)/Si(111) probed by surface transport. Physical Review B, 92(8): 085426. doi:10.1103/PhysRevB.92.085426.

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Basisdaten

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Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Edler, Frederik1, Autor           
Miccoli, Ilio1, 2, Autor           
Demuth, S.3, Autor           
Pfnür, Herbert E.1, Autor           
Wippermann, Stefan Martin4, Autor           
Lücke, Andreas5, Autor           
Schmidt, W. G.6, 7, Autor           
Tegenkamp, Christoph1, Autor           
Affiliations:
1Institut für Festkörperphysik, Leibniz Universität Hannover, Appelstrasse 2, Hannover, Germany, ou_persistent22              
2Dipartimento di Ingegneria dell'Innovazione, Università del Salento, Via Monteroni, Lecce, Italy, ou_persistent22              
3Institut für Festkörperphysik, Leibniz Universität Hannover, Appelstraße 2, 30167 Hannover, Germany, ou_persistent22              
4Atomistic Modelling, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863350              
5Lehrstuhl für Theoretische Physik, Universität Paderborn, Paderborn, Germany, ou_persistent22              
6Lehrstuhl für Theoretische Physik, Universität Paderborn, 33095 Paderborn, Germany, ou_persistent22              
7Center for Surface and Nanoanalytics, Johannes Kepler University Linz, Altenbergerstr. 69, A-4040 Linz, Austria, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: Materials Science; Physics; Engineering;
 Zusammenfassung: The In/Si(111) system reveals an anisotropy in the electrical
conductivity and is a prototype system for atomic wires on surfaces. We
use this system to study and tune the interwire interaction by
adsorption of oxygen. Through rotational square four-tip transport
measurements, both the parallel (sigma(parallel to)) and perpendicular
(sigma(perpendicular to)) components are measured separately. The
analysis of the I(V) curves reveals that sigma(perpendicular to) is also
affected by adsorption of oxygen, showing clearly an effective interwire
coupling, in agreement with density-functional-theory-based calculations
of the transmittance. In addition to these surface-state mediated
transport channels, we confirm the existence of conducting parasitic
space-charge layer channels and address the importance of substrate
steps by performing the transport measurements of In phases grown on
Si(111) mesa structures.

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2015-08-25
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 7
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: ISI: 000359984800005
DOI: 10.1103/PhysRevB.92.085426
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Physical Review B
  Kurztitel : Phys. Rev. B
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Woodbury, NY : American Physical Society
Seiten: - Band / Heft: 92 (8) Artikelnummer: 085426 Start- / Endseite: - Identifikator: ISSN: 1098-0121
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925225008