Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

 
 
DownloadE-Mail
  Investigation of Electromigration in Copper Interconnects by Noise Measurements

Emelianov, V., Ganesan, G., Puzic, A., Schulz, S., Eizenberg, M., Habermeier, H.-U., et al. (2003). Investigation of Electromigration in Copper Interconnects by Noise Measurements. In M. B. Weissmann, N. E. Israeloff, & A. S. Kogan (Eds.), Noise as a Tool for Studying Materials (pp. 271-281).

Item is

Externe Referenzen

einblenden:

Urheber

einblenden:
ausblenden:
 Urheber:
Emelianov, V., Autor
Ganesan, G., Autor
Puzic, A.1, Autor           
Schulz, S., Autor           
Eizenberg, M., Autor
Habermeier, H.-U.2, Autor
Stoll, H.1, 3, Autor           
Affiliations:
1Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497648              
2Max Planck Society, ou_persistent13              
3Former Central Scientific Facility ANKA Synchroton Beamline, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497651              

Inhalt

einblenden:
ausblenden:
Schlagwörter: MPI für Metallforschung; MPI für Festkörperforschung; Abt. Schütz;
 Zusammenfassung: -

Details

einblenden:
ausblenden:
Sprache(n): eng - English
 Datum: 2003
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 63712
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

einblenden:
ausblenden:
Titel: Noise as a Tool for Studying Materials
Veranstaltungsort: Santa Fe, New Mexico
Start-/Enddatum: 2003-06-02 - 2003-06-04

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle 1

einblenden:
ausblenden:
Titel: Noise as a Tool for Studying Materials
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Weissmann, M. B., Herausgeber
Israeloff, N. E., Herausgeber
Kogan, A. S., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 271 - 281 Identifikator: -

Quelle 2

einblenden:
ausblenden:
Titel: Proceedings of SPIE
Genre der Quelle: Reihe
 Urheber:
SPIE, the International Society for Optical Engineering, Herausgeber              
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: -