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  Influence of Interfacial Layers on the Ultimate Shear Strength of Copper/Sapphire Interfaces

Dehm, G., Raj, R., & Rühle, M. (1996). Influence of Interfacial Layers on the Ultimate Shear Strength of Copper/Sapphire Interfaces. Materials Science Forum, 207-209(2), 597-600. doi:10.4028/www.scientific.net/MSF.207-209.597.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-9560-A Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-9561-9
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Dehm, Gerhard1, Autor           
Raj, Rishi2, Autor           
Rühle, Manfred3, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              
2Department of Materials Science and Engineering, Cornell University, Bard Hall, Ithaca, NY, 14853-1501, USA, persistent22              
3Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 1996
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.4028/www.scientific.net/MSF.207-209.597
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Materials Science Forum
  Kurztitel : Mater. Sci. Forum
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 207-209 (2) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 597 - 600 Identifikator: ISSN: 0255-5476
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954928550320