Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
 
 
DownloadE-Mail
 DetailsÜbersicht
  On the Multiple Event Detection in Atom Probe Tomography

Peng, Z., Gault, B., Raabe, D., Ashton, M. W., Sinnott, S. B., Choi, P.-P., et al. (2017). On the Multiple Event Detection in Atom Probe Tomography. In MicroscopyMicroanalysis (pp. 618-619). doi:10.1017/S1431927617003762.

Item is

 

einblenden: alle ausblenden: alle

Basisdaten

einblenden: ausblenden:
Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002E-0630-B Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002E-08C1-4
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

einblenden:

Urheber

einblenden:
ausblenden:
 Urheber:
Peng, Zirong1, Autor           
Gault, Baptiste2, Autor           
Raabe, Dierk1, Autor           
Ashton, Michael W.3, Autor           
Sinnott, Susan B.4, Autor           
Choi, Pyuck-Pa5, Autor           
Li, Yujiao6, Autor           
Affiliations:
1Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381              
2Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384              
3Department of Materials science and Engineering, University of Florida, Gainesville, FL 32611-6400, USA, ou_persistent22              
4Materials Science and Engineering, Pennsylvania State University, State College, PA 16802, USA, ou_persistent22              
5Department of Materials Science and Engineering, Korea Advanced Institute of Science and Technology, Daejeon 34141, Korea, ou_persistent22              
6Center for Interface-Dominated High Performance Materials, Ruhr-Universität Bochum, Bochum 44780, Germany, ou_persistent22              

Inhalt

einblenden:

Details

einblenden:
ausblenden:
Sprache(n): eng - English
 Datum: 2017-08-042017
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1017/S1431927617003762
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

einblenden:
ausblenden:
Titel: Microscopy & Microanalysis 2017
Veranstaltungsort: St. Louis, MO, USA
Start-/Enddatum: 2017-08-06 - 2017-08-10

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle 1

einblenden:
ausblenden:
Titel: MicroscopyMicroanalysis
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 23 (S1) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 618 - 619 Identifikator: -