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  X-ray reflectivity study of an amphiphilic hexa-peri-hexabenzocoronene at a structured silicon wafer surface

Kubowicz, S., Thünemann, A. F., Geue, T. M., Pietsch, U., Watson, M. D., Tchebotareva, N., et al. (2003). X-ray reflectivity study of an amphiphilic hexa-peri-hexabenzocoronene at a structured silicon wafer surface. Langmuir, 19(26), 10997-10999. doi:10.1021/la035210e.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0015-6204-B Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002A-281C-E
Genre: Zeitschriftenartikel

Dateien

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:
112636.pdf (Verlagsversion), 92KB
 
Datei-Permalink:
-
Name:
112636.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Eingeschränkt (Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, MTKG; )
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
-
Copyright Info:
eDoc_access: INSTITUT
Lizenz:
-

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Kubowicz, S.1, Autor           
Thünemann, A. F., Autor
Geue, T. M., Autor
Pietsch, U., Autor
Watson, M. D., Autor
Tchebotareva, N., Autor
Müllen, K., Autor
Affiliations:
1Grenzflächen, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society, ou_1863287              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 2003-12-23
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 112636
ISI: 000187507500052
DOI: 10.1021/la035210e
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Langmuir
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Columbus, OH : American Chemical Society
Seiten: - Band / Heft: 19 (26) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 10997 - 10999 Identifikator: ISSN: 0743-7463