Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
 
 
DownloadE-Mail
 Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht
  Atomistic Simulations of Surface Effects Under High Electric Fields

Parviainen, S., Dagan, M., Katnagallu, S., Gault, B., Moody, M. P., & Vurpillot, F. (2017). Atomistic Simulations of Surface Effects Under High Electric Fields. In Proceedings of Microscopy & Microanalysis 2017 (pp. 644-645). doi:10.1017/S1431927617003889.

Item is

 

einblenden: alle ausblenden: alle

Basisdaten

einblenden: ausblenden:
Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-4AA7-0 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-4AAD-A
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

einblenden:

Urheber

einblenden:
ausblenden:
 Urheber:
Parviainen, Stefan1, Autor           
Dagan, Michal2, Autor           
Katnagallu, Shyam3, Autor           
Gault, Baptiste3, Autor           
Moody, Michael P.4, Autor           
Vurpillot, François5, Autor           
Affiliations:
1GPM UMR CNRS 6634, Université de Rouen, Saint-Etienne du Rouvray, France, persistent22              
2Department of Materials, University of Oxford, Parks Road, Oxford, OX1 3PH UK, persistent22              
3Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384              
4Department of Materials, University of Oxford, Parks Road, Oxford OX13PH, UK, ou_persistent22              
5GPM UMR 6634 CNRS, Université et INSA de Rouen, Rouen, France, persistent22              

Inhalt

einblenden:

Details

einblenden:
ausblenden:
Sprache(n): eng - English
 Datum: 2017-08-042017
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1017/S1431927617003889
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

einblenden:
ausblenden:
Titel: Microscopy & Microanalysis 2017
Veranstaltungsort: St. Louis, Missouri, USA
Start-/Enddatum: 2017-08-06 - 2017-08-10

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle 1

einblenden:
ausblenden:
Titel: Proceedings of Microscopy & Microanalysis 2017
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 23 (S1) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 644 - 645 Identifikator: -