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  In-situ TEM straining experiments of Al films on polyimide using a novel FIB design for specimen preparation

Dehm, G., Legros, M., & Heiland, B. (2006). In-situ TEM straining experiments of Al films on polyimide using a novel FIB design for specimen preparation. Journal of Materials Science, 41(14), 4484-4489.

Item is

基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-9806-D 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-9807-C
資料種別: 会議論文

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関連URL

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作成者

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 作成者:
Dehm, Gerhard1, 2, 著者           
Legros, Marc3, 著者           
Heiland, Birgit4, 著者           
所属:
1Department of Materials Physics, Montanuniversität Leoben, Austria, ou_persistent22              
2Erich Schmid Institute of Materials Science, Austrian Academy of Sciences, Leoben, Austria, ou_persistent22              
3CEMES-CNRS, 29 rue J. Marvig, 31055 Toulouse, France, ou_persistent22              
4Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt;
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2006-07
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子(DOI, ISBNなど): eDoc: 297819
ISI: 000239720900014
DOI: 10.1007/s10853-006-0087-7
 学位: -

関連イベント

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イベント名: 10th Meeting on Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science
開催地: Maastricht, The Netherlands
開始日・終了日: 2005-09-25 - 2005-09-30

訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Journal of Materials Science
  省略形 : JMS
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: New York, NY, USA : Springer
ページ: - 巻号: 41 (14) 通巻号: - 開始・終了ページ: 4484 - 4489 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): ISSN: 0022-2461
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925415936_1