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 詳細要約
  Soft X-ray microscopy to characterize polyelectrolyte assemblies

Köhler, K., Dejugnat, C., Dubois, M., Zemb, T., Sukhorukov, G. B., Guttmann, P., & Möhwald, H. (2007). Soft X-ray microscopy to characterize polyelectrolyte assemblies. Journal of Physical Chemistry B, 111(29), 8388-8393.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0015-56DC-C 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0015-56DD-A
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Köhler, K.1, 著者           
Dejugnat, C., 著者
Dubois, M., 著者
Zemb, T., 著者
Sukhorukov, G. B.1, 著者           
Guttmann, P., 著者
Möhwald, H.2, 著者           
所属:
1Grenzflächen, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society, ou_1863287              
2Helmuth Möhwald, Grenzflächen, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society, ou_1863312              

内容説明

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資料詳細

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言語:
 日付: 2007-07-26
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 329324
ISI: 000248121500009
ISI: 000248121500009
 学位: -

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出版物 1

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出版物名: Journal of Physical Chemistry B
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 111 (29) 通巻号: - 開始・終了ページ: 8388 - 8393 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -