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  Thermoelectric Materials : a methodology for defects – properties correlation

Abdellaoui, L., Zhang, S., Rodenkirchen, C., Zaefferer, S., Bueno Villoro, R., Guen, E., et al. (2019). Thermoelectric Materials: a methodology for defects – properties correlation. Poster presented at International Workshop on Advanced and In-situ Microscopies of Functional Nanomaterials and Devices, IAMNano, Düsseldorf, Germany.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Abdellaoui, Lamya1, Autor           
Zhang, Siyuan1, Autor           
Rodenkirchen, Cynthia2, Autor           
Zaefferer, Stefan3, Autor           
Bueno Villoro, Ruben1, Autor           
Guen, E.4, Autor
Chapuis, P.-O.4, Autor
Gomès, S.4, Autor
Cojocaru-Mirédin, Oana2, Autor           
Yu, Yuan5, Autor           
Amouyal, Yaron6, Autor           
Raabe, Dierk7, Autor           
Snyder, Gerald Jeffrey8, Autor           
Scheu, Christina1, Autor           
Affiliations:
1Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2054294              
2I. Physikalisches Institut (IA), RWTH Aachen, 52074 Aachen, Germany, ou_persistent22              
3Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391              
4CNRS, INSA-Lyon, Université Claude Bernard Lyon 1, CETHIL UMR5008, France, ou_persistent22              
5RWTH Aachen University, I. Physikalisches Institut IA, 52056 Aachen, Germany, ou_persistent22              
6Technion, Israel Institute of Technology, Haifa, Israel, ou_persistent22              
7Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381              
8Northwestern University, Materials Science and Engineering Department, 2220 Campus Drive, Evanston, IL, 60208-3109, USA, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2019-10
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: International Workshop on Advanced and In-situ Microscopies of Functional Nanomaterials and Devices, IAMNano
Veranstaltungsort: Düsseldorf, Germany
Start-/Enddatum: 2019-10-27 - 2019-10-30

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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