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  Height-regulating scanning Kelvin probe for simultaneous measurement of surface topology and electrode potentials at buried polymer/metal interfaces

Wapner, K., Schoenberger, B., Stratmann, M., & Grundmeier, G. (2005). Height-regulating scanning Kelvin probe for simultaneous measurement of surface topology and electrode potentials at buried polymer/metal interfaces. Journal of the Electrochemical Society, 152(3), E114-E122. doi:10.1149/1.1856914.

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Urheber

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 Urheber:
Wapner, K.1, Autor           
Schoenberger, B.2, Autor
Stratmann, M.3, Autor           
Grundmeier, G.1, 4, Autor           
Affiliations:
1Adhesion and Thin Films, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863349              
2Max Planck Society, ou_persistent13              
3Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863348              
4Christian Doppler Laboratory for Metal/Polymer Interfaces, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863353              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 20052005
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 224488
DOI: 10.1149/1.1856914
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of the Electrochemical Society
  Alternativer Titel : J. Electrochem. Soc.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 152 (3) Artikelnummer: - Start- / Endseite: E114 - E122 Identifikator: -