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  Off-axis and in line electron holography: experimental comparison

Latychevskaia, T., Formanek, P., Koch, C. T., & Lubk, A. (2010). Off-axis and in line electron holography: experimental comparison. Ultramicroscopy, 110, 472-482. doi:10.1016/j.ultramic.2009.12.007.

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Urheber

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 Urheber:
Latychevskaia, T.1, Autor
Formanek, P.1, Autor
Koch, C. T.2, 3, Autor           
Lubk, A.1, Autor
Affiliations:
1Institute of Physics, University of Zurich, Winterthurerstrasse190, 8057Zurich, Switzerland; Technische Universität Dresden,Triebenberg Lab,Zum Triebenberg 50,01328Dresden, Germany., ou_persistent22              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
3Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2010
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 478116
DOI: 10.1016/j.ultramic.2009.12.007
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Ultramicroscopy
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 110 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 472 - 482 Identifikator: -