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  The SESAM Project - Present State and Applications

Sigle, W., Krämer, S., Zern, A., Cai, Y., Eigenthaler, U., Hahn, K., et al. (2002). The SESAM Project - Present State and Applications. In J. Engelbrecht, T. Sevell, M. Witcomb, R. Cross, & P. Richards (Eds.), Proceedings of the 15th International Congress on Electron Microscopy. Vol. 1 (pp. 329-330). Onderstepoort: Microscopy Society of Southern Africa.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-32B2-6 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-32B3-4
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Sigle, W.1, 2, Autor           
Krämer, S.1, Autor           
Zern, A.1, Autor           
Cai, Y.3, Autor           
Eigenthaler, U.1, 4, Autor           
Hahn, K.1, 2, Autor           
Rühle, M.1, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              
3Former Dept. Materials Synthesis and Microstructure Design, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497654              
4Scientific Staff Assembly Dual Beam, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497668              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle; 67-ru_2002;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2002
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 11075
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: ICEM 15. 15th International Congress on Electron Microscopy
Veranstaltungsort: Durban [South Africa]
Start-/Enddatum: 2002-09-01 - 2002-09-06

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Proceedings of the 15th International Congress on Electron Microscopy. Vol. 1
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Engelbrecht, J., Herausgeber
Sevell, T., Herausgeber
Witcomb, M., Herausgeber
Cross, R., Herausgeber
Richards, P., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: Onderstepoort : Microscopy Society of Southern Africa
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 329 - 330 Identifikator: -