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  Quantitative mapping of fast voltage pulses in tunnel junctions by plasmonic luminescence

Grosse, C., Etzkorn, M., Kuhnke, K., Loth, S., & Kern, K. (2013). Quantitative mapping of fast voltage pulses in tunnel junctions by plasmonic luminescence. Applied Physics Letters, 103(18):. doi:10.1063/1.4827556.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-5BDB-7 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-5BDC-5
資料種別: 学術論文

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1.4827556.pdf (出版社版), 2MB
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ファイルのパーマリンク:
https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-5BDD-3
ファイル名:
1.4827556.pdf
説明:
-
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MIMEタイプ / チェックサム:
application/pdf / [MD5]
技術的なメタデータ:
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著作権日付:
2013
著作権情報:
© American Institute of Physics. This article may be downloaded for personal use only. Any other use requires prior permission of the author and the American Institute of Physics.
CCライセンス:
-

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http://dx.doi.org/10.1063/1.4827556 (出版社版)
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-
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作成者

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 作成者:
Grosse, Christoph1, 著者
Etzkorn, Markus1, 著者
Kuhnke, Klaus1, 著者
Loth, Sebastian1, 2, 3, 著者           
Kern, Klaus1, 4, 著者
所属:
1Max Planck Institute for Solid State Research, ou_persistent22              
2Dynamics of Nanoelectronic Systems, Research Groups, Max Planck Research Department for Structural Dynamics, Department of Physics, University of Hamburg, External Organizations, ou_2173642              
3Center for Free-Electron Laser Science, Luruper Chaussee 149, 22761 Hamburg, Germany, ou_persistent22              
4École Polytechnique Fédérale de Lausanne, Institute of Condensed Matter Physics, Bâtiment PH, Station 3, 1015 Lausanne, Switzerland, ou_persistent22              

内容説明

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キーワード: Tunnel junctions; Scanning tunneling microscopy; Electric measurements; Photons; Plasmons
 要旨: An optical read-out technique is demonstrated that enables mapping the time-dependent electrostatic potential in the tunnel junction of a scanning tunneling microscope with millivolt and nanosecond accuracy. We measure the time-dependent intensity of plasmonic light emitted from the tunnel junction upon excitation with a nanosecond voltage pulse. The light intensity is found to be a quantitative measure of the voltage between tip and sample. This permits non-invasive mapping of fast voltage transients directly at the tunnel junction. Knowledge of the pulse profile reaching the tunnel junction is applied to optimize the experiment's time response by actively shaping the incident pulses.

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2013-09-192013-10-152013-10-302013-10-28
 出版の状態: 出版
 ページ: 4
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.1063/1.4827556
 学位: -

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訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Applied Physics Letters
  省略形 : Appl. Phys. Lett.
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Melville, NY : American Institute of Physics
ページ: - 巻号: 103 (18) 通巻号: 183108 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: その他: 0003-6951
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954922836223