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  Recent advances in use of atomic layer deposition and focused ion beams for fabrication of Fresnel zone plates for hard x-rays

Keskinbora, K., Robisch, A.-L., Mayer, M., Grévent, C., Szeghalmi, A. V., Knez, M., et al. (2013). Recent advances in use of atomic layer deposition and focused ion beams for fabrication of Fresnel zone plates for hard x-rays. Proceedings of SPIE (The International Society for Optical Engineering), 8851: 885119. doi:10.1117/12.2027251.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Keskinbora, K.1, Autor           
Robisch, A.-L.2, Autor
Mayer, M.1, Autor           
Grévent, C.1, Autor           
Szeghalmi, A. V.3, Autor
Knez, M.4, Autor
Weigand, M.1, Autor           
Snigireva, I.5, Autor
Snigirev, A.5, Autor
Salditt, T.2, Autor
Schütz, G.1, Autor           
Affiliations:
1Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497648              
2Institut für Röntgenphysik, Universität Göttingen, Göttingen, Germany, ou_persistent22              
3Friedrich-Schiller-University Jena, Jena, Germany, ou_persistent22              
4CIC nanoGune Consolider, Spain, ou_persistent22              
5European Synchrotron Radiation Facility, France, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: Abt. Schütz
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2013
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1117/12.2027251
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Proceedings of SPIE (The International Society for Optical Engineering)
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 8851 Artikelnummer: 885119 Start- / Endseite: - Identifikator: -