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  EELS Measurements and Ab-initio Calculations of the N–K Edge in TiN/VN Films Deposited on MgO Substrates

Rashkova, B., Zhang, Z., Šturm, S., Kothleitner, G., Kutschej, K., Mitterer, C., et al. (2009). EELS Measurements and Ab-initio Calculations of the N–K Edge in TiN/VN Films Deposited on MgO Substrates. In G. Kothleitner (Ed.), 9th Multinational Microscopy Conference 2009 (pp. 285-286). Graz, Austria: Verlag der Technischen Universität Graz.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0024-5556-F Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-6D46-7
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Rashkova, Boryana1, 2, Autor           
Zhang, Zaoli3, Autor           
Šturm, Sašo4, Autor           
Kothleitner, Gerald5, Autor           
Kutschej, Kerstin6, Autor           
Mitterer, Christian7, Autor           
Lazar, Petr8, Autor           
Redinger, Josef8, Autor           
Podloucky, Raimund9, Autor           
Scheu, Christina10, Autor           
Dehm, Gerhard1, 2, Autor           
Affiliations:
1Erich-Schmid-Institute of Materials Science, Austrian Academy of Sciences, Jahnstrasse 12, 8700 Leoben, Austria, ou_persistent22              
2Department of Materials Physics, Montanuniversität Leoben, Austria, ou_persistent22              
3Erich Schmid Institute of Material Science, Austrian Academy of Sciences, Leoben, Austria, ou_persistent22              
4Institut Jožef Stefan, Department for Nanostructured Materials, Ljubljana, Slovenia, ou_persistent22              
5Institut für Elektronenmikroskopie und Nanoanalytik, Technische Universität Graz, Austria, ou_persistent22              
6Department of Physical Metallurgy and Materials Testing, University of Leoben, Franz-Josef-Str. 18, A-8700 Leoben, Austria, ou_persistent22              
7Department of Physical Metallurgy and Materials Testing, Christian-Doppler Laboratory for Advanced Coatings, University of Leoben, Austria, ou_persistent22              
8Institute of Applied Physics, Vienna University of Technology, Vienna, Austria, ou_persistent22              
9Department of Physical Chemistry, Vienna University, Vienna, Austria, ou_persistent22              
10Department Physical Metallurgy and Materials Testing, Montanuniversität Leoben, Franz-Josef-Str. 18, 8700 Leoben, Austria, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2009
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: URI: www.univie.ac.at/asem
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 9th Multinational Microscopy Conference 2009
Veranstaltungsort: Graz, Austria
Start-/Enddatum: 2009-08-30 - 2008-09-04

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: 9th Multinational Microscopy Conference 2009
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Kothleitner, Gerald1, Herausgeber           
Leisch, Manfred2, Autor           
Affiliations:
1 Institut für Elektronenmikroskopie und Nanoanalytik, Technische Universität Graz, Austria, ou_persistent22            
2 Institute for Solid State Physics, Technische Universitat Graz, Austria, ou_persistent22            
Ort, Verlag, Ausgabe: Graz, Austria : Verlag der Technischen Universität Graz
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 285 - 286 Identifikator: -