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  Electron Microscopy and Holography of Nanobricks of Si and Ge Clathrates

Simon, P., Carrillo-Cabrera, W., Zhongjia, T., Chiong, K., Baitinger, M., Grin, Y., et al. (2010). Electron Microscopy and Holography of Nanobricks of Si and Ge Clathrates. Nanofair 2010 - 8th International Nanotechnology Symposium, Session analytics I.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Simon, P.1, Autor           
Carrillo-Cabrera, W.2, Autor           
Zhongjia, T., Autor
Chiong, K., Autor
Baitinger, M.3, Autor           
Grin, Y.4, Autor           
Guloy, A. M.5, Autor           
Affiliations:
1Paul Simon, Chemical Metal Science, Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society, ou_1863418              
2Chemical Metal Science, Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society, ou_1863405              
3Michael Baitinger, Chemical Metal Science, Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society, ou_1863416              
4Juri Grin, Chemical Metal Science, Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society, ou_1863413              
5Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society, ou_1863404              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2010-03-01
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 537451
URI: http://www.nanofair.com/
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Nanofair 2010 - 8th International Nanotechnology Symposium
Veranstaltungsort: Dresden
Start-/Enddatum: 2010-07-06 - 2010-07-07

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Nanofair 2010 - 8th International Nanotechnology Symposium
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: CD-ROM Band / Heft: - Artikelnummer: Session analytics I Start- / Endseite: - Identifikator: -