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  Atom probe tomography study of internal interfaces in Cu2ZnSnSe4 thin-films

Schwarz, T., Cojocaru-Mirédin, O., Choi, P.-P., Mousel, M., Redinger, A., Siebentritt, S., et al. (2015). Atom probe tomography study of internal interfaces in Cu2ZnSnSe4 thin-films. Journal of Applied Physics, 118(9): 095302. doi:10.1063/1.4929874.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002A-3731-5 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002A-3732-3
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Schwarz, Torsten1, Autor           
Cojocaru-Mirédin, Oana1, Autor           
Choi, Pyuck-Pa1, Autor           
Mousel, Marina2, Autor           
Redinger, Alex3, Autor           
Siebentritt, Susanne2, Autor           
Raabe, Dierk4, Autor           
Affiliations:
1Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384              
2University of Luxembourg, Laboratory for Photovoltaics, 41, rue du Brill, L-4422, Belvaux, Luxembourg, ou_persistent22              
3Helmholtz-Zentrum Berlin, Department Complex Compound Semiconductor Materials for Photovoltaics, 14109, Berlin, Germany, ou_persistent22              
4Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2015
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1063/1.4929874
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Applied Physics
  Kurztitel : J. Appl. Phys.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: New York, NY : AIP Publishing
Seiten: - Band / Heft: 118 (9) Artikelnummer: 095302 Start- / Endseite: - Identifikator: -