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  Characterization and optimization of a thin direct electron detector for fast imaging applications

Dourki, I., Westermeier, F., Schopper, F., Richter, R., Andricek, L., Ninkovic, J., et al. (2017). Characterization and optimization of a thin direct electron detector for fast imaging applications. Journal of Instrumentation, 12: C03047. doi:10.1088/1748-0221/12/03/C03047.

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Genre: Zeitschriftenartikel

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Dourki_2017_J._Inst._12_C03047.pdf (Verlagsversion), 3MB
 
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Dourki_2017_J._Inst._12_C03047.pdf
Beschreibung:
-
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Sichtbarkeit:
Privat
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
Technische Metadaten:
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Externe Referenzen

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externe Referenz:
https://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/12/03/C03047 (Verlagsversion)
Beschreibung:
-
OA-Status:

Urheber

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 Urheber:
Dourki, Ibrahym1, Autor           
Westermeier, Fabian1, Autor           
Schopper, F.2, Autor
Richter, R.H.2, Autor
Andricek, L.2, Autor
Ninkovic, J.2, Autor
Treis, J.2, Autor
Koffmane, C.2, Autor
Wassatsch, A.2, Autor
Peric, I.3, Autor
Epp, S. W.1, Autor           
Miller, R. J. Dwayne1, 4, Autor           
Affiliations:
1Miller Group, Atomically Resolved Dynamics Department, Max Planck Institute for the Structure and Dynamics of Matter, Max Planck Society, ou_1938288              
2Halbleiterlabor der Max-Planck-Gesellschaft, Otto-Hahn-Ring 6, 81739 München, Germany, ou_persistent22              
3Karlsruhe Institute of Technology (KIT), Institute for Data Processing and Electronics (IPE), 76021 Karlsruhe, Germany, ou_persistent22              
4Departments of Chemistry and Physics, University of Toronto, 80 St. George Street, Toronto M5S 1H6, Canada, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: -
 Zusammenfassung: Direct electron detectors are increasingly used to explore the dynamics of macromolecules in real space and real time using transmission electron microscopy. The purpose of this work is to optimize the most suitable detector configuration of a thin silicon detector by Monte Carlo Simulations. Several simulations were performed to achieve an advanced detector geometry that reduces significantly the background signal due to backscattered electrons resulting in an enhanced imaging performance of the detector. Utilizing DEPFET (DEpleted P-channel Field Effect Transistor) technology and the novel ideas for the optimized detector geometry, a unique direct hit electron detector is currently being produced.

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2016-09-302017-02-142017-03-13
 Publikationsstatus: Online veröffentlicht
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1088/1748-0221/12/03/C03047
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Instrumentation
  Andere : JINST
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Bristol : IOP Publishing
Seiten: - Band / Heft: 12 Artikelnummer: C03047 Start- / Endseite: - Identifikator: ISSN: 1748-0221
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/1000000000221510