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  A new large-area mapping technique to improve the statistical reliability of EBSD datasets

Davut, K., & Zaefferer, S. (2011). A new large-area mapping technique to improve the statistical reliability of EBSD datasets. Talk presented at Royal Microscopy Society (RMS) EBSD 2011 Meeting. Düsseldorf, Germany. 2011-03-28 - 2011-03-30.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Davut, K.1, Autor           
Zaefferer, S.1, Autor           
Affiliations:
1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum:
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 580676
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Royal Microscopy Society (RMS) EBSD 2011 Meeting
Veranstaltungsort: Düsseldorf, Germany
Start-/Enddatum: 2011-03-28 - 2011-03-30

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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