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New insights on quantitative microstructure characterization by electron channeling contrast imaging under controlled diffraction conditions in the SEM

Gutiérrez-Urrutia, I., & Raabe, D. (2012). New insights on quantitative microstructure characterization by electron channeling contrast imaging under controlled diffraction conditions in the SEM. Talk presented at Microscopy & Microanalysis. Phoenix, AZ, USA. 2012-07-30 - 2012-08-02.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-2853-8 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0002-D343-4

Genre: Vortrag

Dateien

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Urheber

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Urheber:
Gutiérrez-Urrutia, I.¹, Autor
Raabe, D.¹, Autor

Affiliations:
1Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381

Inhalt

Details

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Sprache(n): eng - English

Datum: Erstellt: 2012

Publikationsstatus: Keine Angabe

Seiten: -

Ort, Verlag, Ausgabe: -

Inhaltsverzeichnis: -

Art der Begutachtung: -

Identifikatoren: eDoc: 619058

Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Microscopy & Microanalysis

Veranstaltungsort: Phoenix, AZ, USA

Start-/Enddatum: 2012-07-30 - 2012-08-02

Entscheidung

Projektinformation

Quelle