X-ray µLaue diffraction to understand plasticity at interfaces

Kirchlechner, Christoph; Malyar, Nataliya; Imrich, Peter Julian; Dehm, Gerhard

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X-ray µLaue diffraction to understand plasticity at interfaces

Kirchlechner, C., Malyar, N., Imrich, P. J., & Dehm, G. (2016). X-ray µLaue diffraction to understand plasticity at interfaces. Talk presented at DPG Frühjahrstagung 2016. Regensburg, Germany. 2016-03-06 - 2016-03-11.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-CA53-1 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-CA54-0

資料種別: 講演

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Kirchlechner, Christoph^{1, 2}, 著者
Malyar, Nataliya¹, 著者
Imrich, Peter Julian², 著者
Dehm, Gerhard³, 著者

所属:
1Nano-/ Micromechanics of Materials, Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863401
2Department of Materials Physics, Montanuniversität Leoben, Austria, ou_persistent22
3Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863398

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言語: eng - English

日付: 作成: 2016-03

出版の状態: 不明

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