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  Antireflective Layers on Thin Metal Films for Mid-Infrared Internal Reflection Spectroscopy

Reithmeier, M., & Erbe, A. (2010). Antireflective Layers on Thin Metal Films for Mid-Infrared Internal Reflection Spectroscopy. In Optical Interference Coatings (OIC) (pp. 1-3). Washington, D.C., USA: Optical Society of America (OSA).

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-3C63-2 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-3C66-B
資料種別: 会議論文

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関連URL

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作成者

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 作成者:
Reithmeier, M.1, 著者           
Erbe, A.1, 著者           
所属:
1Interface Spectroscopy, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863358              

内容説明

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資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2010
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 499347
 学位: -

関連イベント

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イベント名: Measurement III (ThE)
開催地: Tucson, AZ, USA
開始日・終了日: 2010-06-06 - 2010-06-06

訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Optical Interference Coatings (OIC)
種別: 会議論文集
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Washington, D.C., USA : Optical Society of America (OSA)
ページ: 3 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 1 - 3 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -