Further development of depth differentiation X-ray photoelectron spectroscopy 
(XPS)

Merzlikin, Sergiy Vasil´ović; Grünert, Wolfgang; Tolkachev, Nikolay N.; Strunskus, Thomas; Wöll, Christof H.

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Further development of depth differentiation X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)

Merzlikin, S. V., Grünert, W., Tolkachev, N. N., Strunskus, T., & Wöll, C. H. (2006). Further development of depth differentiation X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). Poster presented at 39.Jahrestreffen Deutscher Katalytiker, DECHEMA, 2006, Weimar, Germany.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0025-087E-0 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0025-0880-8

資料種別: ポスター

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Merzlikin, Sergiy Vasil´ović¹, 著者
Grünert, Wolfgang¹, 著者
Tolkachev, Nikolay N.², 著者
Strunskus, Thomas³, 著者
Wöll, Christof H.⁴, 著者

所属:
1Lehrstuhl für Technische Chemie, Ruhr-Universität Bochum, Postfach 102148, 44780 Bochum, Germany, ou_persistent22
2N. D. Zelinsky Institute of Organic Chemistry, Russian Academy of Sciences, Moscow, Russia, ou_persistent22
3Lehrstuhl Physikalische Chemie, Ruhr-Universität, Bochum, Germany, ou_persistent22
4Laboratory of Physical Chemistry I, Ruhr University Bochum, D-44780 Bochum, Germany, ou_persistent22

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言語: eng - English

日付: 作成: 2006

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