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  Static and dynamic profiles of tethered polymer layers probed by analyzing the noise of an atomic force microscope

Roters, A., Gelbert, M., Schimmel, M., Rühe, J., & Johannsmann, D. (1997). Static and dynamic profiles of tethered polymer layers probed by analyzing the noise of an atomic force microscope. Physical Review E, 56(3), 3256-3264.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-5818-4 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-5819-2
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Roters, A., Autor
Gelbert, M.1, Autor           
Schimmel, M., Autor
Rühe, Jürgen1, Autor           
Johannsmann, Diethelm1, Autor           
Affiliations:
1MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1309545              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 1997
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 362432
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Physical Review E
  Alternativer Titel : Phys. Rev. E
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 56 (3) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 3256 - 3264 Identifikator: -