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  Scanning tunneling microscopy of chromium-filled carbon nanotubes: Tip effects and related topographic features

Zha, F.-X., Czerw, R., Carroll, D. L., Kohler-Redlich, P., Wei, B.-Q., Loiseau, A., et al. (2000). Scanning tunneling microscopy of chromium-filled carbon nanotubes: Tip effects and related topographic features. Physical Review B, 61, 4884-4889.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3808-1 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3809-0
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Zha, F.-X., Autor
Czerw, R., Autor
Carroll, D. L., Autor
Kohler-Redlich, P.1, Autor           
Wei, B.-Q., Autor
Loiseau, A., Autor
Roth, S., Autor
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Ehemalige Abt. Rühle;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2000
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 198733
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Physical Review B
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 61 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 4884 - 4889 Identifikator: -