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  High Fidelity Reconstruction of Experimental Field Ion Microscopy Data by Atomic Relaxation Simulations

Katnagallu, S., Nematollahi, G. A., Dagan, M., Moody, M. P., Grabowski, B., Gault, B., et al. (2017). High Fidelity Reconstruction of Experimental Field Ion Microscopy Data by Atomic Relaxation Simulations. In Proceedings of Microscopy & Microanaalysis 2017 (pp. 642-643). New York, NY, USA: Cambridge University Press. doi:10.1017/S1431927617003877.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-4963-E Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-4964-D
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Katnagallu, Shyam1, Autor           
Nematollahi, Gholamali Ali2, Autor           
Dagan, Michal3, Autor           
Moody, Michael P.4, Autor           
Grabowski, Blazej2, Autor           
Gault, Baptiste1, Autor           
Raabe, Dierk5, Autor           
Neugebauer, Jörg6, Autor           
Affiliations:
1Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384              
2Adaptive Structural Materials (Simulation), Computational Materials Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863339              
3Department of Materials, University of Oxford, Parks Road, Oxford, OX1 3PH UK, persistent22              
4Department of Materials, University of Oxford, Parks Road, Oxford OX13PH, UK, ou_persistent22              
5Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381              
6Computational Materials Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863337              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2017-08-042017-07
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1017/S1431927617003877
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Microscopy and Microanalysis 2017
Veranstaltungsort: St. Louis, MO, USA
Start-/Enddatum: 2017-08-06 - 2017-08-10

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Proceedings of Microscopy & Microanaalysis 2017
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: New York, NY, USA : Cambridge University Press
Seiten: - Band / Heft: 23 (S1) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 642 - 643 Identifikator: -