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  How to Measure Patent Thickets: A Novel Approach

Von Graevenitz, G., Wagner, S., & Harhoff, D. (2011). How to Measure Patent Thickets: A Novel Approach. Economics Letters, 111(1), 6-9.

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Externe Referenzen

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externe Referenz:
http://dx.doi.org/10.1016/j.econlet.2010.12.005 (Verlagsversion)
Beschreibung:
-
OA-Status:

Urheber

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 Urheber:
Von Graevenitz, Georg1, Autor
Wagner, Stefan1, Autor
Harhoff, Dietmar1, Autor           
Affiliations:
1External Organizations, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: Patenting; Patent thickets; Patent portfolio races; Complexity
 Zusammenfassung: This paper provides a direct measure of the density of patent thickets based on patent citations. We discuss the algorithm that generates the measure and present descriptive results validating it. Moreover, we identify technology areas particularly affected by patent thickets.

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2011
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Economics Letters
  Kurztitel : Econ. Lett.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Amsterdam : North-Holland
Seiten: - Band / Heft: 111 (1) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 6 - 9 Identifikator: ISSN: 0165-1765
ZDB: 717210-2
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925481602