Electron Diffraction in Scanning Electron Microscope and its applications

Ram, F.; Zaefferer, S.; Khorashadizadeh, A.; Jäpel, T.; Davut, K.

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Electron Diffraction in Scanning Electron Microscope and its applications

Ram, F., Zaefferer, S., Khorashadizadeh, A., Jäpel, T., & Davut, K. (2012). Electron Diffraction in Scanning Electron Microscope and its applications. Talk presented at Institut für Werkstofftechnik, Helmut Schmidt Universität. Hamburg, Germany. 2012-11.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-2694-6 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-41F1-6

資料種別: 講演

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Ram, F.¹, 著者
Zaefferer, S.¹, 著者
Khorashadizadeh, A.¹, 著者
Jäpel, T.¹, 著者
Davut, K.¹, 著者

所属:
1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391

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言語: eng - English

日付: 作成: 2012-11

出版の状態: 不明

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 672906

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