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Stimulated emission depletion microscopy with a single offset beam.

Klar, T. A., Dyba, M., & Hell, S. W. (2001). Stimulated emission depletion microscopy with a single offset beam. Applied Physics Letters, 78(4), 393-395. Retrieved from http://scitation.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=APPLAB000078000004000393000001&idtype=cvips&doi=10.1063/1.1338491&prog=normal.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0012-F552-2 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0027-E35E-F

Genre: Zeitschriftenartikel

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227002.pdf (Verlagsversion), 0B

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227002.pdf

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Eingeschränkt (UNKNOWN id 303; )

MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf

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Urheber

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Urheber:
Klar, T. A.¹, Autor
Dyba, M.², Autor
Hell, S. W.¹, Autor

Affiliations:
1Department of NanoBiophotonics, MPI for biophysical chemistry, Max Planck Society, ou_578627
2Max Planck Society, ou_persistent13

Inhalt

Details

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Sprache(n): eng - English

Datum: Erschienen: 2001-01-22

Publikationsstatus: Erschienen

Seiten: -

Ort, Verlag, Ausgabe: -

Inhaltsverzeichnis: -

Art der Begutachtung: -

Identifikatoren: eDoc: 227002
URI: http://scitation.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=APPLAB000078000004000393000001&idtype=cvips&doi=10.1063/1.1338491&prog=normal

Art des Abschluß: -

Veranstaltung

Entscheidung

Projektinformation

Quelle 1

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Titel: Applied Physics Letters

Genre der Quelle: Zeitschrift

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Ort, Verlag, Ausgabe: -

Seiten: - Band / Heft: 78 (4) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 393 - 395 Identifikator: -