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  Single-shot full strain tensor determination with microbeam X-ray Laue diffraction and a twodimensional energy-dispersive detector

Abboud, A., Kirchlechner, C., Kečkéš, J., Çonka-Nurdan, T., Send, S., Micha, J.-S., Ulrich, O., Hartmann, R., Strüderf, L., & Pietsch, U. (2017). Single-shot full strain tensor determination with microbeam X-ray Laue diffraction and a twodimensional energy-dispersive detector. Journal of Applied Crystallography, 50(3), 901-908. doi:10.1107/S1600576717005581.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-6EE3-4 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-6EF1-4
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Abboud, Ali1, 著者           
Kirchlechner, Christoph2, 3, 著者           
Kečkéš, Jozef4, 著者           
Çonka-Nurdan, Tuba5, 著者           
Send, Sebastian1, 著者           
Micha, Jean-Sebastien6, 著者           
Ulrich, Oliver7, 著者           
Hartmann, Robert8, 著者           
Strüderf, L.9, 著者           
Pietsch, Ullrich1, 著者           
所属:
1Department of Physics, University of Siegen, Siegen, Germany, ou_persistent22              
2Nano-/ Micromechanics of Materials, Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863401              
3Department of Materials Physics, Montanuniversität Leoben, Austria, ou_persistent22              
4Department of Materials Physics, Montanuniversität Leoben, Leoben, Austria, ou_persistent22              
5Fakultät für Ingenieurwissenschaften, Türkish German Universität, Sahinkaya Caddesi 86, Istanbul, Turkey, persistent22              
6CEA-Grenoble, Institut Nanosciences et Cryogénie, Grenoble, France, ou_persistent22              
7CEA-Grenoble/DRFMC/SprAM, 17 rue des Martyrs, Grenoble Cedex 9, France, ou_persistent22              
8PNSensor GmbH, Otto-Hahn-Ring 6, München, Germany, persistent22              
9Department of Physics, University of Siegen, Siegen, Germany, persistent22              

内容説明

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キーワード: Crystal orientation; Single crystals; Strain; Synchrotron radiation; X ray apparatus; X ray diffraction, Energy dispersive detectors; Energy dispersive x-ray; Experimental procedure; Hydrostatic components; Lattice spacing; Laue diffraction; Laue diffraction patterns; Strain and stress, Tensors
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2017-06
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.1107/S1600576717005581
BibTex参照ID: Abboud2017901
 学位: -

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訴訟

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出版物 1

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出版物名: Journal of Applied Crystallography
  省略形 : J. Appl. Cryst.
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Oxford, England : Blackwell Publishing on behalf of the International Union of Crystallography
ページ: - 巻号: 50 (3) 通巻号: - 開始・終了ページ: 901 - 908 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0021-8898
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925410812