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  Characterization of Mo2BC thin films by transmission electron microscopy methods

Gleich, S., Djaziri, S., Bolvardi, H., Schneider, J. M., & Scheu, C. (2015). Characterization of Mo2BC thin films by transmission electron microscopy methods. Poster presented at 2nd International Workshop on TEM Spectroscopy, Uppsala, Sweden.

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Urheber

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 Urheber:
Gleich, Stephan1, Autor           
Djaziri, Soundès2, Autor           
Bolvardi, Hamid3, Autor           
Schneider, Jochen Michael4, Autor           
Scheu, Christina1, Autor           
Affiliations:
1Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2054294              
2Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863398              
3Materials Chemistry, RWTH Aachen University, Kopernikusstraße 10, D-52074 Aachen, Germany, ou_persistent22              
4Materials Chemistry, Lehrstuhl für Werkstoffchemie, RWTH Aachen, Germany, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2015-05
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 2nd International Workshop on TEM Spectroscopy
Veranstaltungsort: Uppsala, Sweden
Start-/Enddatum: 2015-05-18 - 2015-05-20

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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