Further development of depth differentiation X-ray photoelectron spectroscopy 
(XPS)

Merzlikin, Sergiy Vasil´ović; Grünert, Wolfgang; Tolkachev, Nikolay N.; Strunskus, Thomas; Wöll, Christof H.

Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht

Further development of depth differentiation X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)

Merzlikin, S. V., Grünert, W., Tolkachev, N. N., Strunskus, T., & Wöll, C. H. (2006). Further development of depth differentiation X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). Poster presented at 39.Jahrestreffen Deutscher Katalytiker, DECHEMA, 2006, Weimar, Germany.

Item is Freigegeben

einblenden: alle ausblenden: alle

Basisdaten

einblenden: ausblenden:

Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0025-087E-0 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0025-0880-8

Genre: Poster

ausblenden:

Urheber:
Merzlikin, Sergiy Vasil´ović¹, Autor
Grünert, Wolfgang¹, Autor
Tolkachev, Nikolay N.², Autor
Strunskus, Thomas³, Autor
Wöll, Christof H.⁴, Autor

Affiliations:
1Lehrstuhl für Technische Chemie, Ruhr-Universität Bochum, Postfach 102148, 44780 Bochum, Germany, ou_persistent22
2N. D. Zelinsky Institute of Organic Chemistry, Russian Academy of Sciences, Moscow, Russia, ou_persistent22
3Lehrstuhl Physikalische Chemie, Ruhr-Universität, Bochum, Germany, ou_persistent22
4Laboratory of Physical Chemistry I, Ruhr University Bochum, D-44780 Bochum, Germany, ou_persistent22