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  Accurate terahertz spectroscopy of supported thin films by precise substrate thickness correction

Krewer, K. L., Mics, Z., Arabski, J., Schmerber, G., Beaurepaire, E., Bonn, M., et al. (2018). Accurate terahertz spectroscopy of supported thin films by precise substrate thickness correction. Optics Letters, 43(3), 447-450. doi:10.1364/OL.43.000447.

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Basisdaten

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Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Krewer, Keno L.1, Autor           
Mics, Zoltan1, Autor           
Arabski, J., Autor
Schmerber, G., Autor
Beaurepaire, E., Autor
Bonn, Mischa1, Autor           
Turchinovich, Dmitry1, Autor           
Affiliations:
1Dept. Bonn: Molecular Spectroscopy, MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1800285              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2018
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1364/OL.43.000447
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Optics Letters
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Washington : Optical Society of America
Seiten: - Band / Heft: 43 (3) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 447 - 450 Identifikator: ISSN: 0146-9592
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925474435