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  Separating strain from composition in unit cell parameter maps obtained from aberration corrected high resolution transmission electron microscopy imaging

Schulz, T., Duff, A., Remmele, M., Korytov, T., Markut, M., Albrecht, M., Lymperakis, L., Neugebauer, J., Chèze, C., & Skierbiszewski, C. (2014). Separating strain from composition in unit cell parameter maps obtained from aberration corrected high resolution transmission electron microscopy imaging. Journal of Applied Physics, 115(3):. doi:10.1063/1.4862736.

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基本情報

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資料種別: 学術論文

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 作成者:
Schulz, T.1, 著者           
Duff, Andrew2, 著者           
Remmele, M.1, 著者           
Korytov, T.1, 著者           
Markut, M.1, 著者           
Albrecht, Martin3, 著者           
Lymperakis, Liverios2, 著者           
Neugebauer, Jörg4, 著者           
Chèze, C.5, 著者           
Skierbiszewski, C.5, 6, 著者           
所属:
1Leibniz-Institut für Kristallzüchtung, Max-Born-Straße 2, 12489 Berlin, Germany, ou_persistent22              
2Microstructure, Computational Materials Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863344              
3Leibniz-Institut für Kristallzüchtung, Max-Born-Straße 2, Berlin, Germany, ou_persistent22              
4Computational Materials Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863337              
5TopGaN Sp. z o.o., Sokolowska 29/37, 01-142 Warsaw, Poland, ou_persistent22              
6Institute of High Pressure Physics, Polish Academy of Sciences, Sokolowska 29/37, 01-142 Warsaw, Poland, ou_persistent22              

内容説明

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資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2014-01-21
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子(DOI, ISBNなど): DOI: 10.1063/1.4862736
 学位: -

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出版物 1

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出版物名: Journal of Applied Physics
  省略形 : J. Appl. Phys.
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 115 (3) 通巻号: 033113 開始・終了ページ: - 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): ISSN: 0021-8979
DOI: 10.1063/1.4862736
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/991042723401880